静默数据错误迫使芯片测试重构

发生了什么

据Semiconductor Engineering分析，静默数据错误（SDE）正迫使数据中心维护与芯片测试策略重构。早期分析显示SDE影响千分之一服务器，导致高缺陷率。由于设计规则缩小和复杂性增加，传统测试难以应对，需通过改进制造筛选和系统级DFT来缓解长期运行程序中的硬件故障风险。