CPO测试扩展挑战探讨

阅读要点

• 光纤对准是光学引擎测试的主要瓶颈，多点探针卡可以显著缓解这一问题。光学连接器必须在光学性能最佳的同时具有机械强度，以承受组装和使用。在光学和电气两端同时进行回环可以简化测试。
• 半导体工程与多位行业专家的对话，包括Teradyne的Matt Griffin、Advantest America的Ira Leventhal、ISE Labs的Dave Armstrong和Keysight Technologies的Kazuo Yamaguchi，探讨了CPO测试扩展的挑战和解决方案。
• 这些挑战和解决方案适用于从单芯片到多芯片的CPO测试扩展，特别是在系统架构和连接器类型不断发展的背景下。
• 当前CPO测试的主要限制是单芯片测试，特别是在光学引擎方面，光纤对准是一个主要瓶颈。同时进行电气和光学连接也面临挑战，特别是在高频RF表征方面。