西门子扩展Tessent系统生命周期管理
发生了什么
西门子宣布扩展其系统生命周期管理方案,将Tessent系统内测试(IST)与电压监测技术相结合。该方案通过在西门子Veloce proFPGA平台上集成Movellus Aeonic Insight电压跌落传感器与Tessent嵌入式分析工具,旨在识别并区分由电压跌落引起的误报与实际结构性故障。此举允许工程师在部署后的系统中进行结构化测试,并通过时间对齐的遥测数据分析测试期间的物理条件与系统活动,从而减少因误判导致的健康节点服务中断。
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- Semiconductor Engineering评论
From Functional Monitoring To In-System Test: Extending Voltage-Aware Observability
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