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赵继宗:脑机接口稳定性需五年大考

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中国科学院院士赵继宗在接受科技日报专访时表示,脑机接口技术需经历“三年看效果,五年看结果”的验证周期。他指出,核心顾虑在于长期生物相容性,电极植入后可能因胶质瘢痕包裹导致信号衰减。赵继宗认为,只有在五年后电极信号保持稳定且无严重免疫并发症,才能认定设备通过稳定性考验。

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    赵继宗:脑机接口稳定性需接受五年大考

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