慕尼黑工大等评估A7 CFET与A10 NSFET
发生了什么
据Semiconductor Engineering报道,慕尼黑工业大学、摩德纳大学和应用材料公司联合发布技术论文,对A7 CFET和A10 NSFET技术节点进行系统-技术联合评估。研究建立了物理基础的评估流程,从寄生参数到芯片可靠性进行了全面分析。
报道与来源
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- Semiconductor Engineering来源报道
Comparing A7 CFET and A10 Nanosheet FETs From Parasitics to Chip Reliability (TUM, UNIMORE, Applied Materials)
来源关系与证据边界
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